Messen & Prüfen
Im Bereich Messen und Prüfen wir können Ihnen anbieten:
- Nadelkarten
- Kontaktnadeln
- Nadelmessplätze
- Wafer Prober
- Manipulatoren
- Maschinen und Teile für Keramikvielschicht Chipkondensatoren
- Zündspulen
Über das Produktportfolio unseres Partners Accuprobe, LLC:
- Z-adjustable probes
- Metal blade probes
- Ceramic blade probes
- Blade spring (pogo) probes
- Probe card edge sensors
- 4 1/2″ probe cards
- 6 1/2″ probe cards
- Chip Resistor Probe Cards
- Round probe cards
- Parametric test probe cards
- Probe assembly stations
- Planarization test stations
- Probe manipulation tools
- Probe card holders
- Cleaning materials
Detaillierte Informationen auf unserer englischen Seite oder unter m.leitner@l-tris.com.
Über das Produktportfolio unseres Partners Probing Solutions, Inc.
(gegründet 1995 von Robert Hancock, der auch die Fa. Micromanipulator ins Leben rief):
- analytische Probestationen (Nadelmessplätze), manuell oder teilautomatisiert, bis Wafergrösse 300mm
- board Test Systeme
- anti vibration tables, schwingungsgedämpfte Tische
- Mikroskope von Meiji, Qioptic Imaging Solutions und Motic
- Laser (New Wave)
- Manipulatoren magnetisch oder per Vakkum gehalten
- probe Nadeln und Halter
- Pico Probes
- thermal chucks
- spezielle Kundenlösungen
Detaillierte Informationen auf unserer englischen Seite oder unter m.leitner@l-tris.com.