Messen & Prüfen

Messen & Prüfen

Im Bereich Messen und Prüfen wir können Ihnen anbieten: 

  • Nadelkarten 
  • Kontaktnadeln 
  • Nadelmessplätze 
  • Wafer Prober 
  • Manipulatoren 
  • Maschinen und Teile für Keramikvielschicht Chipkondensatoren 
  • Zündspulen 

Über das Produktportfolio unseres Partners Accuprobe, LLC:

  • Z-adjustable probes 
  • Metal blade probes 
  • Ceramic blade probes 
  • Blade spring (pogo) probes 
  • Probe card edge sensors 
  • 4 1/2″ probe cards 
  • 6 1/2″ probe cards 
  • Chip Resistor Probe Cards 
  • Round probe cards 
  • Parametric test probe cards 
  • Probe assembly stations 
  • Planarization test stations 
  • Probe manipulation tools 
  • Probe card holders 
  • Cleaning materials 

Detaillierte Informationen auf unserer englischen Seite oder unter m.leitner@l-tris.com.

Über das Produktportfolio unseres Partners Probing Solutions, Inc.
(
gegründet 1995 von  Robert Hancock, der auch die Fa. Micromanipulator ins Leben rief):

  • analytische Probestationen (Nadelmessplätze), manuell oder teilautomatisiert, bis Wafergrösse 300mm 
  • board Test Systeme 
  • anti vibration tables, schwingungsgedämpfte Tische 
  • Mikroskope von Meiji, Qioptic Imaging Solutions und Motic 
  • Laser (New Wave) 
  • Manipulatoren magnetisch oder per Vakkum gehalten 
  • probe Nadeln und Halter 
  • Pico Probes 
  • thermal chucks 
  • spezielle Kundenlösungen 

Detaillierte Informationen auf unserer englischen Seite oder unter m.leitner@l-tris.com.