Messen & Prüfen

Messen & Prüfen

Im Bereich Messen und Prüfen wir können Ihnen anbieten: 

  • Nadelkarten 
  • Kontaktnadeln 
  • Nadelmessplätze 
  • Wafer Prober 
  • Manipulatoren 
  • Maschinen und Teile für Keramikvielschicht Chipkondensatoren 
  • Zündspulen 

Über das Produktportfolio unseres Partners Accuprobe, LLC:

  • Z-adjustable probes
  • Metal blade probes
  • Ceramic blade probes
  • Blade spring (pogo) probes
  • Probe card edge sensors
  • 4 1/2″ probe cards
  • 6 1/2″ probe cards
  • Chip Resistor Probe Cards
  • Round probe cards
  • Parametric test probe cards
  • Probe assembly stations
  • Planarization test stations
  • Probe manipulation tools
  • Probe card holders
  • Cleaning materials

Detaillierte Informationen auf unserer englischen Seite oder unter m.leitner@l-tris.com.

Über das Produktportfolio unseres Partners Probing Solutions, Inc.
(
gegründet 1995 von  Robert Hancock, der auch die Fa. Micromanipulator ins Leben rief):

  • analytische Probestationen (Nadelmessplätze), manuell oder teilautomatisiert, bis Wafergrösse 300mm
  • board Test Systeme
  • anti vibration tables, schwingungsgedämpfte Tische
  • Mikroskope von Meiji, Qioptic Imaging Solutions und Motic
  • Laser (New Wave)
  • Manipulatoren magnetisch oder per Vakkum gehalten
  • probe Nadeln und Halter
  • Pico Probes
  • thermal chucks
  • spezielle Kundenlösungen

Detaillierte Informationen auf unserer englischen Seite oder unter m.leitner@l-tris.com.

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